ウエハ形状測定ソリューション

DY-3001YM測定実績

下のリストに記載の通り様々な材料の測定実績がございます。
また、サンプル測定を随時実施しておりますので、お問い合わせください。
Measurement Examples
Legend for Mesurment Items: ◎:Optimum, ◎:Possible,△:Partially Possible,✕:Wrong
Category Material / Article Status Size Mesurment Items※1※2
XY T Surface
Profile
SORI BOW WARP Thickness TTV GBIR
Semiconductor
(Wafer)
Si
SIC
GaN
Sapphire(Al2O3)
Ga2O3
GaAs
Si3N4
LT(LiTaO3)
LN(LiNbO3)
Glass
Crystal(SiO2)
InP
AlN
Diamond(C)
CdTe
Polished
Grinded
CoinRoll
As Slice
Etched
Patterned
Laminated
Bonded
CVD
TAIKO
MEM
<Φ12inch
<□300[mm]
1<T<800
[um]
Semiconductor
(Plastic)
Plastic Film
Redin
Resist
Glue
Laminated
Bonded
<Φ12inch
<□300[mm]
1<T<2000
[um]
Semiconductor
(Other)
Cu-Mo
Cu-W
AlN
Metal Plate
Ceramic Plate
<Φ12inch
<□300[mm]
>100 [um] ※2 ※2 ※2 ※2
Device Heat Sink
Metal
Component
Cover Glass
Ceramic Plate
…etc.
IGBT
SIC Power
Module
FPD
Module
SOFC Parts
Suction
Plate
…etc.
<□300[mm] >50 [um] ※2 ※3 ※2 ※3 ※2 ※3 ※2 ※3
Other Glass Epoxy
Metal
Ceramic Plate
…etc.
Substrate
Metal
Component
Brake
Friction
Pad
…etc.
<□300[mm] >200 [um] ※2 ※2 ※2 ※2
※1 材質・表面状態により計測可能な項目が変わる場合がございます。サンプル測定が可能ですので、お問い合わせください。
※2 特注装置を設計・製作することにより、通常は計測出来ない項目でも計測が可能となる場合がございますので、お問い合わせください。
※3 ガラスなどの透明体等の可視光・近赤外光が透過可能な材質の場合は、測定領域の厚さが計測可能な場合がございますので、お問い合わせください。